Influence of Interfacial Pressure on Dielectric Performance of the Interface between PE and Silicon
- verfasst von
- Peter Werle, M. Farahani, J. Hohloch, W. Hutt
- Organisationseinheit(en)
-
Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)
- Typ
- Paper
- Publikationsdatum
- 2017
- Publikationsstatus
- Veröffentlicht