Circuit breaker life assessment based on the defect statistics and cost analysis

verfasst von

Kai Gao, Zhaolin Liu, Linghui Yang, X. Zhang, Ernst Gockenbach

Organisationseinheit(en)

Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)

Externe Organisation(en)

East China Grid (ECGC)
East China Electrical Test and Research Institute

Typ

Paper

Publikationsdatum

2011

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja