Influence of Interfacial Pressure on Dielectric Performance of the Interface between PE and Silicon

verfasst von

Peter Werle, M. Farahani, J. Hohloch, W. Hutt

Organisationseinheit(en)

Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)

Typ

Paper

Publikationsdatum

2017

Publikationsstatus

Veröffentlicht