The influence of Humidity on the Breakdown of SF6 with Dielectric-Coated Electrodes

verfasst von
Manfred Beyer , C. D. Ritschel
Organisationseinheit(en)
Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)
Typ
Paper
Publikationsdatum
1985
Publikationsstatus
Veröffentlicht
Peer-reviewed
Ja