Optical digital microscopy and frequency domain analysis as a quality control of solid composite dielectrics in high voltage applications

verfasst von

Peter Werle, Hassan Saadati, J. M. Seifert

Organisationseinheit(en)

Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)

Externe Organisation(en)

LAPP Insulators GmbH

Typ

Paper

Publikationsdatum

2018

Publikationsstatus

Veröffentlicht