Flashover Voltage Dependence of the Tangential Field Strength of Contaminated Insulator Surfaces in SF6

verfasst von

R. Brockmann, R. v. Ohlshausen

Organisationseinheit(en)

Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)

Typ

Paper

Publikationsdatum

1982

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja