The influence of Humidity on the Breakdown of SF6 with Dielectric-Coated Electrodes
Details
- Organisationseinheit(en)
-
Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)
- Typ
- Paper
- Publikationsdatum
- 1985
- Publikationsstatus
- Veröffentlicht
- Peer-reviewed
- Ja
