Flashover Voltage Dependence of the Tangential Field Strength of Contaminated Insulator Surfaces in SF6
Details
- Organisationseinheit(en)
-
Fachgebiet Hochspannungstechnik und Asset Management (Schering-Institut)
- Typ
- Paper
- Publikationsdatum
- 1982
- Publikationsstatus
- Veröffentlicht
- Peer-reviewed
- Ja
